Solusi industri

Fotovoltaik

Dari wafer masuk hingga inspeksi EL modul.

Deteksi cacat pada sel dan modul berkaitan langsung dengan yield. Algoritma konvensional menangani satu jenis cacat dengan baik, tetapi kurang mampu menggeneralisasi cacat gabungan yang bervariasi dalam bentuk dan skala. DSTEK mendeteksinya secara otomatis pada citra electroluminescence, dan sekaligus memasok otomasi loading dan unloading wafer.

Cakupan

Apa yang kami inspeksi

Wafer masuk

Ukuran, bekas gergaji, bow, patah, retak mikro, dan kontaminasi; patah, tumpang tindih, dan sudut saat penyisipan ke basket
Pasca-PECVD

Variasi warna coating dan cacat permukaan — bintik putih, kontaminasi, perbedaan warna dalam sel dan antarsel, bow tepi, bekas etsa
Screen printing

Grid putus, offset cetak, lebar garis, delaminasi back field, kebocoran pasta
PL / EL

Kontaminasi dan bekas hisap pada film belakang, goresan dan bintik putih pada film depan, retak mikro pascacetak
EL modul

Retak mikro linear dan silang, sudut hitam, bintik hitam
Penanganan wafer

Otomasi loading dan unloading; patah, tumpang tindih, dan sudut saat penyisipan ke basket

Aplikasi

Contoh tugas inspeksi

Sebagian dari yang benar-benar telah kami jalankan di lini — bukan daftar lengkap. Objek inspeksi baru ditangani dengan pendekatan yang sama.

Inspeksi wafer mono/poli

Ukuran, bekas gergaji, bow, patah, retak mikro, kontaminasi
Inspeksi basket vertikal

Pecahan, wafer salah, wafer tumpang tindih atau tebal, penyisipan tidak seimbang (beda tinggi lebih dari 20 mm)
Inspeksi coating PECVD

Bintik putih, kontaminasi, perbedaan warna dalam sel dan keseluruhan, bow tepi, bekas etsa
Inspeksi sel elektroda SE

Deviasi referensi dua dimensi ±15μm
Inspeksi screen print

Grid putus, offset cetak, lebar garis, delaminasi back field, offset elektroda belakang, kebocoran pasta
Penyortiran warna sel

Kedalaman dan distribusi warna silikon kristal, disortir ke dalam 8–24 tray
Pengelasan laser junction box

Pemanduan kepala las, inspeksi kerataan busbar, inspeksi kualitas pascapengelasan
EL pengelasan string modul

Retak mikro linear dan silang, sudut dan bintik hitam
Loading/unloading wafer otomatis

Otomasi lini loading dan unloading wafer surya