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Solución industrial

Fotovoltaica

Desde la recepción de obleas hasta la inspección EL de módulos.

Fotovoltaica — objeto de inspección representativo

La detección de defectos en celdas y módulos repercute directamente en el rendimiento productivo. Los algoritmos convencionales resuelven bien un único tipo de defecto, pero generalizan mal ante defectos compuestos que varían en forma y escala. DSTEK los detecta automáticamente en imágenes de electroluminiscencia y suministra además la automatización de carga y descarga de obleas.

Alcance

Qué inspeccionamos

  • Recepción de obleas

    Tamaño, marcas de sierra, curvatura, roturas, microfisuras y contaminación; roturas, solapamientos y ángulo durante la inserción en cestas

  • Post-PECVD

    Variación de color del recubrimiento y defectos superficiales: puntos blancos, contaminación, diferencias de color dentro de una celda y entre celdas, curvatura del borde, marcas de grabado

  • Serigrafía

    Cortes en la rejilla, desplazamiento de impresión, ancho de línea, delaminación del campo posterior, fuga de pasta

  • PL / EL

    Contaminación y marcas de succión en la película posterior, rayaduras y puntos blancos en la película frontal, microfisuras tras la impresión

  • EL de módulos

    Microfisuras lineales y cruzadas, esquinas negras, puntos negros

  • Manipulación de obleas

    Automatización de carga y descarga; roturas, solapamientos y ángulo en la inserción en cestas

Aplicaciones

Tareas de inspección representativas

Una selección de lo que hemos puesto realmente en marcha en la línea, no la lista completa. Los nuevos objetivos de inspección se abordan del mismo modo.

  • Inspección de obleas mono/poli

    Tamaño, marcas de sierra, curvatura, roturas, microfisuras, contaminación

  • Inspección de cestas verticales

    Fragmentos, obleas incorrectas, obleas solapadas o gruesas, desequilibrio de inserción (diferencia de altura superior a 20 mm)

  • Inspección del recubrimiento PECVD

    Puntos blancos, contaminación, diferencias de color dentro de la celda y globales, curvatura del borde, marcas de grabado

  • Inspección de celdas con electrodo SE

    Desviación de referencia bidimensional de ±15μm

  • Inspección de serigrafía

    Cortes en la rejilla, desplazamiento de impresión, ancho de línea, delaminación del campo posterior, desplazamiento del electrodo posterior, fuga de pasta

  • Clasificación de celdas por color

    Profundidad y distribución del color del silicio cristalino, clasificadas en 8–24 bandejas

  • Soldadura láser de cajas de conexiones

    Guiado del cabezal de soldadura, inspección de planitud de las barras colectoras, inspección de calidad tras la soldadura

  • EL de soldadura de cadenas de módulos

    Microfisuras lineales y cruzadas, esquinas y puntos negros

  • Carga/descarga automática de obleas

    Automatización de la línea de carga y descarga de obleas solares

Imágenes de inspección

Lo que ve el sistema

  • Detección de microfisuras por EL en celdas Detección de microfisuras por EL en celdas
  • Detección de puntos negros por EL en módulos Detección de puntos negros por EL en módulos
  • EL de módulos monocristalinos EL de módulos monocristalinos
  • EL de celdas policristalinas EL de celdas policristalinas

Nuestra ventaja

Lo que aportamos a esta industria

  • 01 Modelos de deep learning desarrollados específicamente para imágenes EL y PL
  • 02 Medición de precisión con una referencia de ±15μm
  • 03 Inspección y automatización de la manipulación de obleas suministradas como una sola línea

Cuéntenos su problema de inspección. Empezaremos por decirle si tiene solución.

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