सेल और मॉड्यूल में डिफेक्ट डिटेक्शन सीधे यील्ड को प्रभावित करता है। पारंपरिक एल्गोरिदम एक प्रकार के डिफेक्ट को अच्छी तरह संभालते हैं, लेकिन आकार और पैमाने में बदलने वाले मिश्रित डिफेक्ट पर ठीक से काम नहीं कर पाते। DSTEK इन्हें इलेक्ट्रोल्यूमिनेसेंस इमेज में ऑटोमैटिक रूप से पकड़ता है, और साथ में वेफ़र लोडिंग तथा अनलोडिंग ऑटोमेशन भी देता है।
दायरा
हम किसका इंस्पेक्शन करते हैं
-
वेफ़र इनटेक
आकार, सॉ मार्क, बो, टूट-फूट, माइक्रो-क्रैक और गंदगी; बास्केट में डालते समय टूट-फूट, ओवरलैप और कोण
-
PECVD के बाद
कोटिंग के रंग में अंतर और सतह के डिफेक्ट — सफ़ेद धब्बे, गंदगी, सेल के भीतर और सेलों के बीच रंग का अंतर, किनारे का बो, एच मार्क
-
स्क्रीन प्रिंटिंग
ग्रिड ब्रेक, प्रिंट ऑफ़सेट, लाइन की चौड़ाई, बैक-फ़ील्ड डीलैमिनेशन, पेस्ट लीकेज
-
PL / EL
बैक फ़िल्म पर गंदगी और सक्शन के निशान, फ़्रंट फ़िल्म पर खरोंच और सफ़ेद धब्बे, प्रिंटिंग के बाद माइक्रो-क्रैक
-
मॉड्यूल EL
रेखीय और क्रॉस माइक्रो-क्रैक, काले कोने, काले धब्बे
-
वेफ़र हैंडलिंग
लोडिंग और अनलोडिंग ऑटोमेशन; बास्केट में डालते समय टूट-फूट, ओवरलैप और कोण
एप्लिकेशन
प्रमुख इंस्पेक्शन कार्य
लाइन पर हमारे द्वारा वास्तव में चलाए गए कार्यों का एक चयन — पूरी सूची नहीं। नए इंस्पेक्शन लक्ष्यों को भी इसी तरह संभाला जाता है।
-
मोनो/पॉली वेफ़र इंस्पेक्शन
आकार, सॉ मार्क, बो, टूट-फूट, माइक्रो-क्रैक, गंदगी
-
वर्टिकल बास्केट इंस्पेक्शन
टुकड़े, ग़लत वेफ़र, एक-दूसरे पर चढ़े या मोटे वेफ़र, डालने में असंतुलन (20mm से अधिक ऊँचाई का अंतर)
-
PECVD कोटिंग इंस्पेक्शन
सफ़ेद धब्बे, गंदगी, सेल के भीतर और समग्र रंग का अंतर, किनारे का बो, एच मार्क
-
SE इलेक्ट्रोड सेल इंस्पेक्शन
±15μm का 2D रेफ़रेंस विचलन
-
स्क्रीन प्रिंट इंस्पेक्शन
ग्रिड ब्रेक, प्रिंट ऑफ़सेट, लाइन की चौड़ाई, बैक-फ़ील्ड डीलैमिनेशन, बैक-इलेक्ट्रोड ऑफ़सेट, पेस्ट लीकेज
-
सेल की रंग के अनुसार छँटाई
क्रिस्टलीय सिलिकॉन के रंग की गहराई और वितरण, 8–24 ट्रे में छँटाई
-
जंक्शन बॉक्स लेज़र वेल्डिंग
वेल्ड हेड गाइडेंस, बसबार फ़्लैटनेस इंस्पेक्शन, वेल्डिंग के बाद क्वालिटी इंस्पेक्शन
-
मॉड्यूल स्ट्रिंग वेल्डिंग EL
रेखीय और क्रॉस माइक्रो-क्रैक, काले कोने और धब्बे
-
ऑटोमैटिक वेफ़र लोडिंग/अनलोडिंग
सोलर वेफ़र लोडिंग और अनलोडिंग लाइन ऑटोमेशन
इंस्पेक्शन इमेज
सिस्टम क्या देखता है
-
सेल EL में माइक्रो-क्रैक डिटेक्शन
-
मॉड्यूल EL में काले धब्बों का डिटेक्शन
-
मोनोक्रिस्टलाइन मॉड्यूल EL
-
पॉलीक्रिस्टलाइन सेल EL
हमारी बढ़त
इस उद्योग को हम क्या देते हैं
- 01 EL और PL इमेज के लिए विशेष रूप से बनाए गए डीप-लर्निंग मॉडल
- 02 ±15μm संदर्भ तक प्रिसिज़न माप
- 03 इंस्पेक्शन और वेफ़र हैंडलिंग ऑटोमेशन एक लाइन के रूप में आपूर्ति
अन्य उद्योग
हमारे द्वारा सेवा दिए जाने वाले अन्य उद्योग देखें
यह इंस्पेक्शन किससे चलता है