← Összes megoldás

Iparági megoldás

Napelemipar

A szeletek beérkezésétől a modulok EL-ellenőrzéséig.

Napelemipar — jellemző ellenőrzési tárgy

A cellák és modulok hibaészlelése közvetlenül meghatározza a kihozatalt. A hagyományos algoritmusok egyetlen hibatípust jól kezelnek, de rosszul általánosítanak az alakban és méretben változó összetett hibákra. A DSTEK automatikusan észleli ezeket az elektrolumineszcens felvételeken, és a szeletek be- és kirakodásának automatizálását is szállítja.

Ellenőrzési kör

Mit ellenőrzünk

  • Szeletek beérkezése

    Méret, fűrésznyomok, vetemedés, törés, mikrorepedések és szennyeződés; törés, átfedés és szög a kosárba helyezéskor

  • PECVD után

    Bevonat színeltérése és felületi hibák — fehér foltok, szennyeződés, cellán belüli és cellák közötti színkülönbség, élvetemedés, maratási nyomok

  • Szitanyomás

    Rácsszakadások, nyomateltolódás, vonalszélesség, hátoldali BSF-réteg leválása, pasztaszivárgás

  • PL / EL

    Hátoldali fólia szennyeződése és szívónyomai, elülső fólia karcai és fehér foltjai, nyomtatás utáni mikrorepedések

  • Modul-EL

    Lineáris és kereszt alakú mikrorepedések, fekete sarkok, fekete foltok

  • Szeletmozgatás

    Be- és kirakodás automatizálása; törés, átfedés és szög a kosárba helyezéskor

Alkalmazások

Jellemző ellenőrzési feladatok

Válogatás abból, amit ténylegesen gyártósoron futtattunk — nem a teljes lista. Az új ellenőrzési feladatokat ugyanígy közelítjük meg.

  • Mono- és polikristályos szeletek ellenőrzése

    Méret, fűrésznyomok, vetemedés, törés, mikrorepedések, szennyeződés

  • Függőleges kosár ellenőrzése

    Töredékek, hibás szeletek, átfedő vagy vastag szeletek, egyenetlen behelyezés (20 mm-t meghaladó magasságkülönbség)

  • PECVD-bevonat ellenőrzése

    Fehér foltok, szennyeződés, cellán belüli és általános színkülönbség, élvetemedés, maratási nyomok

  • SE-elektródás cellák ellenőrzése

    Kétdimenziós referencia-eltérés: ±15 μm

  • Szitanyomás ellenőrzése

    Rácsszakadások, nyomateltolódás, vonalszélesség, hátoldali mező leválása, hátoldali elektróda eltolódása, pasztaszivárgás

  • Cellák szín szerinti válogatása

    A kristályos szilícium színmélysége és -eloszlása alapján 8–24 tálcába válogatva

  • Csatlakozódoboz lézerhegesztése

    Hegesztőfej-vezetés, gyűjtősín síklapúság-ellenőrzése, hegesztés utáni minőségellenőrzés

  • Modulsztring-hegesztés EL

    Lineáris és kereszt alakú mikrorepedések, fekete sarkok és foltok

  • Szeletek automatikus be- és kirakodása

    Napelemszeletek be- és kirakodósorának automatizálása

Ellenőrzési felvételek

Amit a rendszer lát

  • Cella-EL mikrorepedés-észlelés Cella-EL mikrorepedés-észlelés
  • Modul-EL fekete folt észlelése Modul-EL fekete folt észlelése
  • Monokristályos modul EL Monokristályos modul EL
  • Polikristályos cella EL Polikristályos cella EL

Előnyeink

Amit ebbe az iparágba hozunk

  • 01 Kifejezetten EL- és PL-felvételekre épített mélytanulási modellek
  • 02 Precíziós mérés ±15 μm-es referenciához
  • 03 Ellenőrzés és szeletmozgatás-automatizálás egyetlen gyártósorként szállítva

Írja le az ellenőrzési feladatot. Először megmondjuk, megoldható-e.

Kapcsolatfelvétel