高分辨率成像
确保微小缺陷具备足以判定的像素数。

算法看不见的,归根结底是光学没能呈现出来的。DSTEK围绕检测对象和缺陷类型设计光路。高反光、透明、曲面和阳极氧化表面——其他视觉厂商推掉的难题,正是我们的起点。
光学成像系统
五种让缺陷显现的方法,根据工件灵活组合。
确保微小缺陷具备足以判定的像素数。
不降低产线速度即可全检。
以三维方式判定高度、段差和形状缺陷。
在低照度、低对比度条件下也能获取信号。
利用可见光以外的波段区分材质与异物。
光学成像系统
以下都是标准光学模组难以拍清的工况。每一项都是我们实际检测过的工件及检出的缺陷。