高解像度イメージング
判定に十分な画素数で欠陥を捉えます。

アルゴリズムが見られないものは、結局のところ光学系が捉えきれなかったものです。DSTEK は検査対象と欠陥に合わせて光学系を設計します。他のビジョンベンダーが断る高反射・透明・曲面・アルマイト処理の表面こそ、私たちの出発点です。
光学イメージングシステム
欠陥を可視化する5つの方法を、対象に応じて組み合わせます。
判定に十分な画素数で欠陥を捉えます。
ラインを減速させることなく全数検査を行います。
高さ・段差・形状の欠陥を3次元で判定します。
低照度・低コントラストの条件下でも信号を確保します。
可視光以外の波長を用いて、材質と異物を識別します。
光学イメージングシステム
標準的な光学モジュールでは撮像が難しい条件です。いずれも実際に検査した対象と、検出した欠陥です。