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業界別ソリューション

3Cエレクトロニクス

スマートフォン、ノートPC、ウェアラブル、オーディオ製品の全数検査。

3Cエレクトロニクス — 代表的な検査対象

3C部品の小型化と組立構造の複雑化により、目視や従来のAOIでは求められる品質を満たせなくなっています。DSTEK は2D+2.5D+3Dイメージング、工程に合わせた光学系、ディープラーニングAIを組み合わせ、3Cの全工程で全数検査を実現します。

検査範囲

検査する箇所

  • スマートフォン

    カバーガラス、サイドフレーム、背面カバーの外観、ボタン・継ぎ目・ポート・カードスロット、内部モジュールの組付け状態

  • カメラモジュール

    レンズの異物・偏心、加飾部の汚れ、フラッシュの黒点、レンズ実装不良

  • ノートPC

    A/B/C/D面のキズやねじの緩みを出荷前に検査

  • オーディオ

    ハウジングのキズ・色ムラ、シール不良、メッシュの異物・変形、充電端子の欠陥

  • ウェアラブル

    スマートウォッチのバンド・本体の色ムラ、黒点、汚れ、キズ

  • カバーガラス

    2.5D曲面ガラスのエッジクラック、研磨痕、微細欠陥

適用事例

代表的な検査項目

実際にラインで稼働している項目の一部です。これがすべてではなく、新しい検査対象にも同じアプローチで対応します。

  • スマートフォン外観検査

    カバーガラス、サイドフレーム、背面カバーのキズ、異物、打痕

  • スマートフォン内部モジュール

    ねじ欠品、誤組付け、部品欠品、コネクタの未嵌合

  • カメラモジュール検査

    レンズの異物・偏心、加飾部の汚れ、フラッシュの黒点、実装不良

  • バッテリーカバー・指紋モジュール

    圧痕、変形、付着異物、ロゴ印刷不良、指紋モジュールへの異物噛み込み

  • イヤホン・ヘッドホン

    ハウジングのキズ・色ムラ、シール不良、メッシュの異物・変形、充電端子の欠陥

    グローバルスマートフォンOEM

  • イヤホンのシェル・ベース

    成形品の表面欠陥と組付け状態

  • 2.5Dガラスエッジ

    曲面カバーガラスのエッジクラック、研磨痕、表面の微細欠陥

    グローバルEMS企業

  • キーボード

    キーキャップの印刷・表面欠陥、組付け状態

  • ソケット・モーター組立

    組付けの有無と正誤の確認

  • 鉄心の外観

    積層外観の検査ライン

検査画像

システムが捉える画像

  • スマートフォン内部モジュールの組付け検査 スマートフォン内部モジュールの組付け検査
  • カメラモジュールのレンズ検査 カメラモジュールのレンズ検査
  • 背面カバーの外観検査 背面カバーの外観検査
  • サイドフレーム・継ぎ目の検査 サイドフレーム・継ぎ目の検査

当社の強み

この業界で DSTEK が提供できること

  • 01 工程ごとに設計した光学系 — 高光沢カバーガラスから黒色ハウジングまで
  • 02 2D + 2.5D + 3D の複合イメージング
  • 03 装置の自社製作:検査装置そのものを設計・製造

検査の課題をお聞かせください。まずは解決できるかどうかをお答えします。

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