← Все материалы

Сравнение технологий

AOI на правилах и контроль на основе глубокого обучения

У нас уже есть оборудование AOI. Есть ли смысл переходить на ИИ-контроль?

Разница проявляется, когда меняется освещение или появляется новый дефект. В системе на правилах нужно переписывать алгоритм, при глубоком обучении — дообучить модель. Сильнее всего аргументы в пользу перехода на линиях, где перебраковка уже возвращает работу человеку.

Опубликовано
Техническая проверка
Техническая поддержка DSTEK Korea

Термины

AOI (Automated Optical Inspection)
Оборудование, которое фотографирует деталь и оценивает её внешний вид
На правилах
Оценка по условиям, заданным человеком, — пороговые значения, правила формы
Перебраковка
Годные детали признаются дефектными. Увеличивает трудозатраты на повторный контроль
Пропуск дефекта
Дефектные детали признаются годными. Ведёт к выходу брака к заказчику
Сегментация
Попиксельное выделение области дефекта для определения его положения и площади

В чём реальная разница

Изменение освещения и положения
Система на правилах чувствительна / глубокое обучение устойчиво
Новый тип дефекта
Система на правилах требует обновления алгоритма / глубокое обучение обучается примерно на 5 изображениях
Сложные текстуры (BGA, QFN)
Системе на правилах трудно классифицировать / глубокое обучение классифицирует
Количественная оценка дефекта
Сложно для системы на правилах / глубокое обучение даёт площадь и положение попиксельно
Разрешение обнаружения
Системе на правилах обычно нужно от 5 пикселей / DSTEK различает при 2–3

Когда менять не нужно

  • Один продукт, неизменное освещение и один и тот же набор дефектов годами — системы на правилах достаточно.
  • То же относится к процессам, где измеряются только размеры, без оценки внешнего вида.
  • И наоборот: если варианты продукции часто меняются, типов дефектов становится всё больше или люди заняты перепроверкой перебраковки, выбор очевиден.

Опишите задачу контроля. Для начала мы скажем, решаема ли она.

Связаться с нами