← Teljes tudástár
Technológiai összehasonlítás
Szabályalapú AOI kontra mélytanulásos ellenőrzés
Már van AOI-berendezésünk. Van okunk áttérni az MI-alapú ellenőrzésre?
A különbség akkor mutatkozik meg, amikor változik a megvilágítás vagy új hiba jelenik meg. Szabályalapú rendszernél ez az algoritmus újraírását jelenti, mélytanulásnál újratanítást. Az áttérés ott a legindokoltabb, ahol a téves selejtezés miatt a munka már most is emberhez kerül vissza.
Fogalmak
- AOI (Automated Optical Inspection)
- Berendezés, amely lefényképezi az alkatrészt és értékeli a megjelenését
- Szabályalapú
- Ember által meghatározott feltételek — küszöbértékek, alakszabályok — szerinti döntés
- Téves selejtezés (álpozitív)
- Jó alkatrészek hibásnak minősítése. Többlet utóellenőrzési munkát okoz
- Hibaátcsúszás (álnegatív)
- Hibás alkatrészek jónak minősítése. Kijutó hibákhoz vezet
- Szegmentálás
- A hibaterület pixelenkénti elkülönítése a hely és a terület meghatározásához
Mi a tényleges különbség?
- Megvilágítás- és pozícióváltozás
- A szabályalapú érzékeny / a mélytanulásos robusztus
- Új hibatípus
- A szabályalapú algoritmusfrissítést igényel / a mélytanulásos kb. 5 képből tanul
- Összetett textúrák (BGA, QFN)
- A szabályalapú nehezen osztályoz / a mélytanulásos osztályoz
- A hiba számszerűsítése
- A szabályalapúnak nehéz / a mélytanulásos pixelenként adja meg a területet és a helyet
- Észlelési felbontás
- A szabályalapúnak jellemzően 5+ pixel kell / a DSTEK 2–3 pixelen felismer
Mikor ne váltson?
- Egyetlen termék, rögzített megvilágítás és évek óta változatlan hibakészlet esetén a szabályalapú rendszer elegendő.
- Ugyanez igaz azokra a folyamatokra, amelyek csak méretet mérnek, megjelenési értékelés nélkül.
- Ha viszont a termékváltozatok gyakran változnak, a hibatípusok száma folyamatosan nő, vagy munkatársak kötődnek le a tévesen selejtezett darabok újraellenőrzésével, az áttérés egyértelműen indokolt.
Kapcsolódó termékek és megoldások
Tudástár